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局部放電檢測(cè)儀ST4200

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雙模式局部放電檢測(cè)儀，用于檢測(cè)電機(jī)內(nèi)部的潛在絕緣不良

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解決方案

● 雙模式局部放電檢測(cè)：通過交流PD和脈沖PD進(jìn)行可靠檢測(cè)
● 使用高頻 CT 進(jìn)行抗干擾局部放電測(cè)試
● 與高壓繼電器盒 SW2001 兼容

抗干擾局部放電檢測(cè)提高了電動(dòng)汽車電機(jī)的質(zhì)量

ST4200 局部放電檢測(cè)儀與 SW2001 高壓繼電器相結(jié)合，可為電機(jī)生產(chǎn)測(cè)試提供全面的局部放電 (PD) 檢測(cè)和系統(tǒng)集成。 ST4200 的高頻 CT 局部放電檢測(cè)有效抑制了生產(chǎn)線中的干擾，解決了使用傳統(tǒng)電磁波進(jìn)行局部放電檢測(cè)時(shí)可能會(huì)出現(xiàn)的測(cè)量結(jié)果波動(dòng)問題。
為什么局部放電測(cè)試對(duì)電動(dòng)汽車電機(jī)很重要？

由于碳化硅（SiC）和氮化鎵（GaN）等功率半導(dǎo)體能夠?qū)崿F(xiàn)高速、高壓開關(guān)，電動(dòng)汽車電機(jī)面臨著重大挑戰(zhàn)。這會(huì)使電機(jī)承受更高的逆變器浪涌電壓，從而對(duì)電機(jī)的絕緣性產(chǎn)生較大的影響。絕緣電阻和耐壓測(cè)試等傳統(tǒng)測(cè)試可能無法檢測(cè)出這些潛在問題。
強(qiáng)化檢測(cè)能力，發(fā)現(xiàn)潛在絕緣不良

雙模式局部放電檢測(cè)
通過同時(shí)運(yùn)用交流PD測(cè)試（符合 IEC 60270 和 IEC 60034-27-1）和脈沖PD測(cè)試（符合 IEC 61934 Ed. 2 和 IEC 60034-27-5），檢測(cè)電機(jī)繞組中潛在的絕緣不良?？梢愿鶕?jù)每臺(tái)電機(jī)的具體需求選擇最為合適的PD測(cè)試方式，盡可能地檢測(cè)出潛在不良。
即使在生產(chǎn)線上也能實(shí)現(xiàn)高可靠性的局部放電測(cè)試

利用高頻CT進(jìn)行耐噪性局部放電檢測(cè)
使用高頻CT進(jìn)行局部放電測(cè)試可減少生產(chǎn)線上使用微波天線進(jìn)行局部放電測(cè)試時(shí)的噪聲干擾，以及環(huán)境因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。這種測(cè)試方法還可用于成品電機(jī)的脈沖PD測(cè)試，而電磁波法則很難進(jìn)行這種測(cè)試。
采用簡(jiǎn)單的系統(tǒng)設(shè)計(jì)降低干擾影響

全部集成在高壓繼電器盒SW2001中
為了最大限度地減少?gòu)?fù)雜測(cè)試環(huán)境中的干擾影響，ST4200所搭載的局部放電測(cè)試系統(tǒng)在多路復(fù)用器的基礎(chǔ)上集成了SW2001。這種設(shè)計(jì)通過集成多個(gè)輸入信號(hào)，大幅減少布線的復(fù)雜性，將布線和互連的影響降低至最小程度。有效減少電磁干擾 (EMI)、接地回路和電容耦合等潛在干擾源，從而實(shí)現(xiàn)更精確、更可靠的測(cè)量。

交流PD測(cè)量

檢測(cè)方式	使用符合IEC 60270 與 IEC 60034-27-1標(biāo)準(zhǔn)的檢測(cè)阻抗與帶通濾波器的放電電荷量測(cè)量方式
測(cè)試頻率范圍 (施加電壓)	45 Hz ～ 1.1 kHz
電荷量測(cè)量范圍（Q）	10 pC ≦ Q ≦ 500 pC（被測(cè)物靜電電容 C：200 pF ≦ C < 2 nFにおいて） 10 pC ≦ Q ≦ 2500 pC（被測(cè)物靜電電容C：2 nF ≦ C ≦ 10 nFにおいて)
測(cè)量項(xiàng)目	【通常模式】重復(fù)發(fā)生的最大PD強(qiáng)度(Q max)，PD脈沖發(fā)生數(shù)(m，m+，m-)，PD脈沖發(fā)生率(n)，電壓有效值(U rms)，電壓波高值(Up+，Up-)，平均放電電流(I)，放電功率(P)，二次率(D)，PD脈沖的表觀電荷(q)，PD脈沖相位角(φ) 【PDIV模式】(在通常模式的值中追加下述值) PD起始電壓(Ui)、PD熄滅電壓(Ue)

脈沖PD測(cè)量

檢測(cè)方式	基于IEC 61934 Edition 2.0 以及IEC 60034-27-5，通過CT和數(shù)字濾波檢測(cè)放電電流
采樣速度	200 MS/s
測(cè)量項(xiàng)目	【通常模式】 PD峰值放電量(Qpk)、脈沖序列中的PD發(fā)生數(shù)(m) 【PDIV模式】(在通常模式的值中追加下述值) PD發(fā)生起始電壓(PDIV)，重復(fù)PD發(fā)生起始電壓(RPDIV)，重復(fù)PD熄滅電壓(RPDEV)，PD熄滅電壓(PDEV)，重復(fù)PD峰值放電量(RQpk)

高壓發(fā)生源控制

控制內(nèi)容	作為局部放電的高壓發(fā)生源，會(huì)用到絕緣耐壓測(cè)試儀、脈沖線圈測(cè)試儀去聯(lián)動(dòng)控制
對(duì)應(yīng)儀器（2025年2月為止）	自動(dòng)絕緣/耐壓測(cè)試儀3153、脈沖線圈測(cè)試儀ST4030、ST4030A等
測(cè)量項(xiàng)目	【通常模式】 PD峰值放電量(Qpk)、脈沖序列中的PD發(fā)生數(shù)(m) 【PDIV模式】(在通常模式的值中追加下述值) PD發(fā)生起始電壓(PDIV)，重復(fù)PD發(fā)生起始電壓(RPDIV)，重復(fù)PD熄滅電壓(RPDEV)，PD熄滅電壓(PDEV)，重復(fù)PD峰值放電量(RQpk)

交流PD，脈沖PD通用測(cè)量

測(cè)量模式	普通模式：施加一定電壓，進(jìn)行單次或連續(xù)測(cè)量 PDIV模式：根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)的要求，在改變施加電壓的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量
功能	判定功能，圖表顯示功能（交流PD：電壓波形、PD脈沖監(jiān)視器/脈沖PD：電流波形、PD脈沖監(jiān)視器）
外部存儲(chǔ)設(shè)備	SD 存儲(chǔ)卡、U盤、SSD ※請(qǐng)務(wù)必使用本公司的選件。
放射性無線頻率	50 pC以下（在10 V/m時(shí)）
電磁場(chǎng)的影響	50 pC以下(在10 V時(shí))
傳導(dǎo)性無線頻率電磁場(chǎng)的影響	50 pC以下(在10 V時(shí))
疊加到電源上的脈沖干擾的影響	50 pC以下(1kV，疊加脈寬50 ns的脈沖干擾時(shí))
接口	LAN, USB, RS-232C（請(qǐng)使用市售USB串行轉(zhuǎn)換線）, EXT. I/O, MONITOR輸出
電源	額定電源電壓：AC 100 V～240 V, 額定功率：300 VA
尺寸·體積	約353（W）×約235（H）×約154.8（D） mm（不含突起物）, 約7.3 kg（安裝U8332時(shí)）, 約7.1 kg（未安裝U8332時(shí)）
附件	電源線 × 1, 啟動(dòng)指南 × 1, 使用注意事項(xiàng) × 1