電子零件和半導體行業(yè)解決方案
Electronics & Semiconductor Solutions
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電子零件和半導體行業(yè)解決方案
Electronics & Semiconductor Solutions1 臺儀器可高速連續(xù)測量,并判斷合格與否。用于壓電揚聲器、水晶耳機、麥 克風、振動傳感器、壓力傳感器、回轉(zhuǎn)傳感器、發(fā)電電路、驅(qū)動裝置、噴墨打 印機等多種用途的壓電元件的共振特性、靜電容量測量。
要點
· 使用 1 臺阻抗分析儀 IM3570 可連續(xù)測量頻率特性(分析模式)和靜電容量(LCR 模 式)。
· 利用通過面板保存功能保存的分析模式和 LCR 模式的測量條件進行連續(xù)測量。
· 可在 4Hz~5MHz 和廣范圍的頻率范圍下測量。 · 使用 LCR 模式的比較功能判斷靜電容量。
· 使用分析模式的峰值判斷功能判斷共振狀態(tài)合格與否。
· 峰值判斷是在攝制的判斷區(qū)域內(nèi)(上限、下限、左限、右限)判斷是否有峰值。
· 使用分析模式的頻率掃頻功能,將每點每 1ms 的頻率特性和高速測量的結果用圖表顯 示在畫面中。
· 連續(xù)測量結果畫面中,確認 LCR 模式的測量結果、LCR 模式、分析模式的判斷結果。
· 使用連續(xù)測量結果畫面的 GRAPH 鍵確認分析模式的測量結果。
使用儀器
※ 記載的內(nèi)容是根據(jù) 2010 年 7 月發(fā)行的儀器型號。產(chǎn)品參數(shù)可能會有更改,請以現(xiàn)在發(fā)行的為準。