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測量低阻抗時測量值不穩(wěn)定
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測量低阻抗時測量值不穩(wěn)定 A.
測試治具和測試探頭有些是2端子結構的。2端子結構的會受到接觸電阻的影響，測量低阻抗的測試物時，有可能發(fā)生測量值不穩(wěn)定的現象。因為接觸電阻不穩(wěn)定，根據接觸壓力等會發(fā)生變化。
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